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Journée mesure dimensionnelle par vision

mercredi 9 avril 2014 - Amphi Saphir - Telecom PARISTECH

par Antoine Trapet - 19 mars 2014

La journée technique mesure dimensionnelle par vision (mercredi 9 avril) a pour but de rapprocher les communautés scientifiques portées sur l’acquisition et le traitement d’images ou de données 3D issues de capteurs optiques avec celles portées vers la mesure. Le besoin d’un tel rapprochement paraît d’autant plus indispensable que, contrairement à d’autres technologies, les utilisateurs se retrouvent confrontés à une absence de qualifications et de normes métrologiques.

Cette journée technique, 3ème du nom, est organisée en partenariat avec le GdR ISIS, le Club EEA, le CFM, le réseau Mesure, Modèles et Incertitudes du CNRS et sous le patronage du Club CMOI.

Programme 9h15 Accueil

9h40 Introduction

9h45 Sur l’estimation du lien entre résolution et résolution spatiale dans les cartes de déplacement et de déformation obtenues avec la méthode de la grille, M. Grédiac, Institut Pascal, Clermont-Ferrand, F. Sur, LORIA, Nancy

10h30 Microscopie 3D par holographie incohérente sans balayage, A. Bonnefois,L. Mugnier, A. Triquet, laboratoire DOTA/HRA, ONERA

11h15 Mesure Tridimensionnelle par stéréophotométrie, Y. Quéau, IRITENSEEIHT,Toulouse

12h Pause méridienne

14h Mesure par vision de caractéristiques géométriques de feux depropagation, L. Rossi, T. Toulouse, UMR CNRS 6134 Sciences Pourl’Enironnement, Université de Corse, M. Akhloufi, CRVI, Canada

14h45 Inspection visuelle des surfaces et courbure, Gilles Pitard,SYMME EA 4144, Annecy, Gaëtan Le Goïc,Le2i UMR CNRS 6306, Auxerre, Simon Desage, SYMME, Serge Samper,LARMAUR, ERL CNRS 6274, Rennes, Hugues Favreliere, Maurice Pillet, SYMME

15h30 Pause café

15h45 Mesures de formes 3D et de déplacements 3D par stéréo-corrélationd’images, J.-E. Dufour, B. Beaubier, F. Hild, S. Roux, LMT, ENS Cachan, S.Leclercq, Messier-Bugatti-Dowty

16h30 Détection de contours et de silhouettes par corrélation d’imagesvirtuelles, M. François, J. C. Thomas, A. Bloch, Laboratoire GeM, Faculté desSciences de Nantes

17h15 Conclusion

Inscription - contact


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