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Tadeusz Sliwa

Professeur

Université de Bourgogne
UFR Sciences et Techniques
ITII de Génie Industriel de Bourgogne
Route des plaines de l'Yonne
BP 16
89010 AUXERRE

Tél : 03.86.49.28.53
Fax : 03.86.49.28.50
Email : sliwatadeusz yahoo.fr

Projets :


Publications

Revues (13)

  • "An evaluation framework and a benchmark for multi/hyperspectral image compression", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, International Journal of Computer Vision and Image Processing (IJCVIP), 1 (1), pp. 55-71, IGI Global, - 2011 lien sur HAL
  • "Needle shape quality control by shadowgraphic image processing", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Michaël Roy, Yvon Voisin, Optical Engineering, 50 (2), SPIE, February 2011 lien sur HAL
  • "Automatic evaluation of the Valsalva sinuses from cine-MRI", Cedric Blanchard, Alain Lalande, Tadeusz Sliwa, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Magnetic Resonance Materials in Physics, Biology and Medicine (2011), 2011 lien sur HAL
  • "Automatic evaluation of the Valsalva sinuses from cine-MRI.", Cedric Blanchard, Alain Lalande, Tadeusz Sliwa, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Magma 24, 6(2011) 359-370, 2011 lien sur HAL
  • "An Adaptive Multiresolution-Based Multispectral Image Compression Method", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, International Journal of Future Generation Communication and Networking (IJFGCN), 3 (4), pp. 1-10, Décembre 2010 http://www.sersc.org/journals/IJFGCN/vol3_no4/1.pdf
  • "Reaction-Diffusion Network For Geometric Multiscale High Speed Image Processing", Stéphane Binczak, Tadeusz Sliwa, Sabir Jacquir, Jean-Marie Bilbault, Image and Vision Computing, 28 , pp. 914-926, March 2010 lien sur HAL http://dx.doi.org/10.1016/j.imavis.2009.11.008
  • "An anisotropic 3D wavelet-based method for multi/hyperspectral image compression and its benchmark", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Journal of Imaging Science & Technology (JIST), 54 (4), pp. 501-515, IS&T, July/August 2010
  • "Subpixel determination of imperfect circles characteristics", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Elsevier Pattern Recognition, 41 (1), pp. 250-271, (http://dx.doi.org/10.1016/j.patcog.2007.03.010), Janvier 2008 lien sur HAL 1745_Subpixel determination of imperfect circles characteristics.pdf
  • "Representation and estimation of spectral reflectances using projection on PCA and wavelet bases", Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Jon Hardeberg, Yvon Voisin, Color Research and Application, 33 (Issue 6), pp. 485-493, Wiley interscience, 2008 2063_Mansouri_CRA_2008.pdf
  • "Detection of rupture lines for active scanning", Zhongwei Hao, Miloud Taferguenit, Tadeusz Sliwa, Franck Marzani, Yvon Voisin, Optical Engineering, 46 (6), June 2007
  • "Three-dimensional level curves scanning based on intersection between laser lines", Tadeusz Sliwa, Hamid Tairi, Yvon Voisin, Alain Diou, Journal of Optical Engineering, 44 (1), pp. 013607-1-013607-8, January 2005 .pdf
  • "Utilisation d’une Caméra à Haute Vitesse d’Acquisition pour la Détection de Lignes lors d’une Illumination non Contrôlée", Tadeusz Sliwa, David Fofi, Yvon Voisin, Alain Diou, Journal Marocain d'Automatique, d'Informatique et de Traitement du Signal, 2005
  • "Visual Tracking based on Orthonormal Series Representation", Hamid Tairi, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Larbi Radouane, WSEAS Transactions on Systems, 2 (issue 2), pp. 471-477, April 2003

Livres (1)

  • "A new distorted circle estimator using active contours approach", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, Processing for image enhancement and multimedia processing, pp. 177-188, Springer Verlag, January 2008

Conférences internationales (29)

  • "A new morphological tool to extract blood vessels in cross sectional MRI", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Medical Imaging 2013: Image, Lake Buena Vista, Florida : États-Unis, 2013 lien sur HAL
  • "Automatic evaluation of the Valsalva sinuses from cine-MRI", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Pauliah Mohan, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, SPIE: Medical Imaging, Lake Buena Vista (Orlando), Florida, USA, Février 2011 http://dx.doi.org/10.1117/12.877673
  • "Automatic evaluation of the sinus of Valsalva from cine-MRI in patients with dilated aortic root", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Eric Steinmetz, Pauliah Mohan, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, SCMR/EuroCMR 2011, Nice Acropolis Convention Centre, France, Février 2011 http://jcmr-online.com/content/pdf/1532-429X-13-S1-P356.pdf
  • "Convex Color Object Recognition and Classification Using Spectral and Morphological Descriptors", Steven Le Moan, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Madain Perez Patricio, Yvon Voisin, Jon Hardeberg, European Conference on Color in Graphics, Imaging and Vision, Joensuu, Finland, IS&T, 14 June 2010
  • "An Adaptive Multiresolution-Based Multispectral Image Compression Method", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, International Conference on Image and Signal Processing 2010 (ICISP 2010), LNCS, 6134 , pp. 54-62, Trois-Rivières, Canada, June 2010 http://www.springerlink.com/content/j366474720h484v7/fulltext.pdf
  • "Conformity of valuable spikes by ombroscopic imaging", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Image Processing: Machine Vision Applications III, San José, USA, SPIE, 2010
  • "Comparative Study of Multi-2D, Full 3D and Hybrid Strategies for Multi/Hyperspectral Image Compression", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, 6th International Symposium on Image and Signal Processing and Analysis (ISPA 2009), Salzburg, Austria, 2009 2440_ISPA09.pdf
  • "A Comparative Study and an Evaluation Framework of Multi/Hyperspectral Image Compression", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, 5th International Conference on Signal-Image Technology and Internet-Based Systems (SITIS 2009), Marrakech, Morocco, 2009 2546_SITIS09.pdf
  • "An Adaptive-PCA algorithm for Reflectance Estimation from Color Images", Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Jon Hardeberg, Yvon Voisin, International Conference on Pattern Recognition (ICPR), Tampa, Florida, USA, IAPR, 2008 2102_MANSOURI_ICPR_2008.pdf
  • "New decomposition basis for reflectance recovery from multispectral imaging systems", Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Jon Hardeberg, Yvon Voisin, Color Imaging Symposium (GCIS07), pp. 75-82, Gjovik, Norvège, June 2007
  • "Spectral reflectance estimation using wavelet basis decomposition", Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Jon Hardeberg, Yvon Voisin, 9th Multispectral and Color umaging Symposium (MCS07),, pp. 149-155, Taipei, Taiwain, May 2007
  • "Reaction-diffusion applied to discrete distorted circles for industrial control", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, International Conference on Quality Control by Artificial Vision (QCAV), Le Creusot, France, Mai 2007
  • "Subpixel evaluation of distorted circles characteristics", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Machine Vision Applications in Industrial Inspection XV - Proceedings of the SPIE, 6503 , San Jose, California USA, January 2007
  • "A new distorted circle estimator using an active contours approach", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, International Conference On Signal-Image Technology & Internet-Based Systems (SITIS), pp. 676-685, Hammamet, Tunisia, December 2006
  • "An Automatic Inter And Intra-row Weed Detection in Agronomic Images", Jean-baptiste Vioix, Tadeusz Sliwa, Christelle Gee, XVI CIGR World Congress, September 2006
  • "3D full field measurement based on micro-geometrical texture patterns", Halima Bubaker-isheil, Jean-Francois Fontaine, Tadeusz Sliwa, Christine Zimmer, Photomechanics 2006, Clermont-Ferrand, France, July 2006 lien sur HAL
  • "Discrete circles measurement for industrial inspection", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Electronic Imaging 2006 - Proceedings of the SPIE, 6070 , pp. 180-191, San Jose, California USA, January 2006
  • "digital correlation method based on microgeometrical texture patterns for strain field measurements", Halima Bubaker-isheil, Jean-Francois Fontaine, Tadeusz Sliwa, Christine Zimmer, EMMC8, Cachan, France, September 2005 lien sur HAL
  • "Reaction-diffusion electrical network for mid-level high-speed image processing (Invited Conference)", Jean-Marie Bilbault, Stéphane Binczak, Tadeusz Sliwa, NWP 2005, International Symposium on Topical Problems of Nonlinear Wave Physics, NWP 2005, pp. 7-8, Nizhny-Novgorod, Russia, RAS , 2005
  • "reaction-diffusion electrical network for image processing", Jean-Marie Bilbault, Stéphane Binczak, Sabir Jacquir, Tadeusz Sliwa, Proc. of SPIE, 5975 , pp. 59750W, SPIE, 2005
  • "Hardware implementation of geometric moment functions in a CMOS retina", Olivier Aubreton, Lew F.C. Lew Yan Voon, Bernard Lamalle, Tadeusz Sliwa, Michaël Roy, Guy Cathébras, 2004 Optics East Conference, Proc. of SPIE, Vol. 5603 , pp. 225-233, 25 October 2004
  • "A Comparative Survey on Invisible Structured Light", David Fofi, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, SPIE Electronic Imaging - Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII, pp. 90-97, San José, USA, January 2004 fofi04a.pdf
  • "Near orthogonal and adaptive affine lifting scheme on vector valued signals", Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Conférence SPIE, Wavelet Applications in Industrial Processing, Rhode Island , USA, Octobre 2003 PhotonicsEast111.pdf
  • "Adaptivity with near orthogonality constraint for high compression rates in lifting scheme framework", Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Conférence SPIE, Mathematics of Data/Image Coding, Compression, and Encryption VI, with Applications, San Diego, USA, August 2003
  • "3D Level Curves Scanning Based On Intersection Between Laser Lines", Tadeusz Sliwa, Hamid Tairi, Yvon Voisin, Alain Diou, Conférence SPIE Optical Metrology, 5144 , pp. 315-322, Munich, Germany, June 2003
  • "Détection automatique des stries de croissance des arbres par tranformée en ondelettes ", Tadeusz Sliwa, Philippe Brunet, Yvon Voisin, Olivier Morel, Christophe Stolz, Alain Diou, Graphics/Vision Interface, pp. 376-381, Halifax, Canada, June 2003
  • "Utilisation d’une Caméra à Haute Vitesse d’Acquisition pour la Détection de Lignes lors d’une Illumination non Contrôlée", Tadeusz Sliwa, David Fofi, Yvon Voisin, Alain Diou, International Conference on Image and Signal Processing, 2 , pp. 497-508, Agadir, Maroc, June 2003
  • "Visual Servo Control Using Orthonormal Polynomial", Hamid Tairi, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Larbi Radouane, International Conference on Quality Control by Artificial Vision, pp. 314-322, Gatlinburg, USA, May 2003 tairi-QCAV.pdf
  • "Using high speed camera to discriminate projective line with an adverse illumination", Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Conférence SPIE Machine Vision, pp. 140-148, Santa Clara, USA, January 2003

Conférences nationales (9)

  • "Segmentation et métrologie des sinus de Valsalva à partir de ciné-IRM", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Journée Françaises de Radiologie (JFR), Paris : France, 2012 lien sur HAL
  • "Extraction et analyse automatiques des sinus de Valsalva à partir de séquences IRM", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, ORASIS, Praz sur Arly, France, 6 June 2011 lien sur HAL http://hal.inria.fr/docs/00/59/52/84/PDF/paper37.pdf
  • "Analyse automatique des sinus de Valsalva a partir de cine-IRM", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Journées RITS de Recherche en Imagerie et Technologies de la Santé, Rennes, Avril 2011
  • "Contrôle qualité de pointes sans contact", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Méthodes et Techniques Optiques pour l’Industrie, Toulouse, France, Novembre 2010
  • "Une méthode de compression d'image multi/hyperspectrales basée sur les ondelettes 3D anisotropes et son évaluation", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, COmpression et REprésentation des Signaux Audiovisuels (CORESA'10), pp. 225-230, Lyon, France, Octobre 2010 http://liris.cnrs.fr/coresa2010/actes_coresa_2010/poster/109.pdf
  • "Une analyse multirésolution adaptative pour la compression d'image multispectrales", Jonathan Delcourt, Alamin Mansouri, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, COmpression et REprésentation des Signaux Audiovisuels 2010 (CORESA 2010), pp. 239-244, Lyon, France, Octobre 2010 http://liris.cnrs.fr/coresa2010/actes_coresa_2010/poster/108.pdf
  • "Mesures de perçages imparfaits en industrie", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie, Mulhouse, France, November 2006
  • "Scanning de lignes de niveau par intersection de plans laser", Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Alain Diou, Contrôles et mesures optiques pour l'industrie, 2 , pp. 558-565, Saint Etienne, France, 15 Novembre 2004
  • "Détection automatique des stries de croissance des arbres par transformée en ondelettes", Tadeusz Sliwa, Olivier Morel, Christophe Stolz, Yvon Voisin, CNRIUT, pp. 412-419, Tarbes, France, Mai 2003

Workshops nationaux (2)

  • "Segmentation et mesure des Sinus de Valsalva en Séquence IRM", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Ecole de printemps en traitement d'image, Martel, France, Avril 2011 http://web.me.com/maitine.bergounioux/EcoleMartel/Participants_files/Martel_CedricBlanchard.pdf
  • "Evaluation automatique des sinus de Valsalva en ciné-IRM", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, Journée scientifique IFR100 Santé-STIC, Dijon, Avril 2011

Séminaires invités (3)

  • "Caractérisation et mesure de pointes", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, GDR ISIS - Thème B - Image et Vision, "Mesure industrielle par vision", Paris, France, 2 Février 2011
  • "Extraction et mesure de forme en imagerie médicale : les sinus de Valsalva", Cedric Blanchard, Tadeusz Sliwa, Alain Lalande, Olivier Bouchot, Yvon Voisin, EPIC10 : Mesure, analyse et modélisation des données biologiques, Lille, France, 14 Octobre 2010 http://madd.polytech-lille.net/EPIC10.html
  • "Introduction to image processing : extracting and analyzing shapes", Tadeusz Sliwa, Leuven, Belgique, 15 July 2008

Thèses (1)

  • "Traitement d’images pour la vidéosurveillance dans les transports en commun", Tadeusz Sliwa, 2003

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