Partenaires


Rechercher

Sur ce site

Sur le Web du CNRS


Accueil du site > Membres > Membres non Permanents > Doctorants > Samuel CHEF

Samuel CHEF

Doctorant


Tél : +33 (0)3 80 39 90 35
Email : samuel.chef u-bourgogne.fr


Publications

Revues (4)

  • "Unsupervised image processing scheme for transistor photon emission analysis in order to identify defect location", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Stéphane Binczak, Journal of Electronic Imaging, 24 (1), pp. 013019-1 013019-12, 2015 lien sur HAL
  • "Unsupervised learning for signal mapping in dynamic photon emission", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Stéphane Binczak, Gan C.L., Microelectronics Reliability, 2015 lien sur HAL
  • "Pattern image enhancement by extended depth of field", Samuel Chef, Bastien Billiot, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Stéphane Binczak, Microelectronics Reliability, 54 (9-10), pp. 2099-2104, 2014 lien sur HAL
  • "Frequency mapping in dynamic light emission with wavelet transform", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Stéphane Binczak, Microelectronics Reliability 53, 9(2013) 1387-1392, 2013 lien sur HAL

Conférences internationales (6)

  • "Mise en œuvre d’une chaîne d’acquisition et de traitement du signal : Application à la mesure du rythme cardiaque en licence 1ère année", Samuel Chef, Maxime Yochum, Jean-Marie Bilbault, Sabir Jacquir, CETSIS2014 : Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, besancon, fr, 2014 lien sur HAL
  • "Cluster matching in time resolved imaging for VLSI analysis", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Philippe Perdu, Kevin Sanchez, Stéphane Binczak, IEEE 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), sg, 2014 lien sur HAL
  • "Spatial correction in dynamic photon emission by affine transformation matrix estimation", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Philippe Perdu, Kevin Sanchez, Stéphane Binczak, IEEE 21st Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), sg, 2014 lien sur HAL
  • "New statistical post processing approach for precise fault and defect localization in TRI database acquired on complex VLSI", Samuel Chef, Philippe Perdu, Guillaume Bascoul, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Stéphane Binczak, 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013), Suzhou : Chine, 2013 lien sur HAL
  • "Optical Probing (EOFM/TRI): A large set of complementary applications for ultimate VLSI", Philippe Perdu, Guillaume Bascoul, Samuel Chef, Guillaume Celi, Kevin Sanchez, 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013), : France, 2013 lien sur HAL
  • "Filtering and emission area identification in the Time Resolved Imaging data", Samuel Chef, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Stéphane Binczak, 38th International Symposium for Test and Failure Analysis (ISTFA), Phoenix : États-Unis, 2012 lien sur HAL

Thèses (1)

  • "Contribution à l'analyse de signaux acquis par émission de photons dynamique pour l'étude de circuits à très haute intégration,Contribution to the analysis of signals obtained by dynamic photon emission for the purpose of studying very large scale in", Samuel Chef, Université de Bourgogne, 2014 lien sur HAL

Derniers billets publiés


Archives


LE2I - Laboratoire Electronique, Informatique et Image | webmestre : Antoine Trapet | info légales | logo SPIP 2