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Gaëtan Le Goïc

Maître de conférences

UFR Sciences et techniques - Laboratoire LE2I
UFR Sciences et Techniques
ITII de Génie Industriel de Bourgogne
89010 AUXERRE
89000 Auxerre

Tél : 0386492852
Email : Gaetan.Le-Goic u-bourgogne.fr
Web : http://scholar.google.fr/citations?hl=fr&user=sU0L890AAAAJ

Projets :


Publications

Revues (1)

  • "Multiscale roughness analysis of engineering surfaces: A comparison of methods for the investigation of functional correlations", Gaëtan Le Goïc, Maxence Bigerelle, Serge Samper, Hugues Favreliere, Pillet Maurice, Mechanical Systems and Signal Processing, 66-67 , pp. 437-457, 2015 lien sur HAL

Conférences internationales (4)

  • "Vers une automatisation du contrôle visuel des produits", Desage Simon-Frédéric, Pitard Gilles, Hugues Favreliere, Pillet Maurice, Jean Luc Maire, Frelin Fabrice, Serge Samper, Gaëtan Le Goïc, QUALITA' 2015, Nancy, fr, 2015 lien sur HAL
  • "Multiscale Topography Analysis of Waterjet Pocketing of Silica Glass Surfaces", Gaëtan Le Goïc, Serge Samper, 15th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Charlotte, us, 2015 lien sur HAL
  • "PTMs developments for the appearance control on high-added value surfaces", Gaëtan Le Goïc, Hugues Favreliere, Serge Samper, Fabien Formosa, 2nd Surface Metrology Seminar for the Americas 2012, États-Unis, 2011 lien sur HAL
  • "Flatness calibration of XY translation stages through modal parameterization", Hugues Favreliere, Gaëtan Le Goïc, Serge Samper, Patrice Belin, 5th international congress of metrology, Paris : France, 2011 lien sur HAL

Autres (1)

  • "Système de détection d'anomalies d'aspect par la technique PTM", Gaëtan Le Goïc, Serge Samper, 2011 lien sur HAL

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