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Fabrice Mairesse

Maître de conférences

Université de Bourgogne
LABORATOIRE Le2i
BP 16
89010 AUXERRE Cedex

Tél : +33 (0)3.86.49.28.59
Fax : +33 (0)3.86.49.28.50
Email : fabrice.mairesse u-bourgogne.fr

Projets :


Publications

Revues (2)

  • "Needle shape quality control by shadowgraphic image processing", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Michaël Roy, Yvon Voisin, Optical Engineering, 50 (2), SPIE, February 2011 lien sur HAL
  • "Subpixel determination of imperfect circles characteristics", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Elsevier Pattern Recognition, 41 (1), pp. 250-271, (http://dx.doi.org/10.1016/j.patcog.2007.03.010), Janvier 2008 lien sur HAL 1745_Subpixel determination of imperfect circles characteristics.pdf

Livres (1)

  • "A new distorted circle estimator using active contours approach", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, Processing for image enhancement and multimedia processing, pp. 177-188, Springer Verlag, January 2008

Conférences internationales (6)

  • "Conformity of valuable spikes by ombroscopic imaging", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Image Processing: Machine Vision Applications III, San José, USA, SPIE, 2010
  • "Reaction-diffusion applied to discrete distorted circles for industrial control", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, International Conference on Quality Control by Artificial Vision (QCAV), Le Creusot, France, Mai 2007
  • "Subpixel evaluation of distorted circles characteristics", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Machine Vision Applications in Industrial Inspection XV - Proceedings of the SPIE, 6503 , San Jose, California USA, January 2007
  • "A new distorted circle estimator using an active contours approach", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Stéphane Binczak, International Conference On Signal-Image Technology & Internet-Based Systems (SITIS), pp. 676-685, Hammamet, Tunisia, December 2006
  • "Discrete circles measurement for industrial inspection", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Electronic Imaging 2006 - Proceedings of the SPIE, 6070 , pp. 180-191, San Jose, California USA, January 2006
  • "characterization of paper mottle by image processing", Fabrice Mairesse, Martin Dube, Jean-philippe Boisvert, Yvon Voisin, Franck Marzani, 7th International Conference on Quality Control by Artificial Vision (QCAV), pp. 343-350, Nagoya, Japon, May 2005

Conférences nationales (2)

  • "Contrôle qualité de pointes sans contact", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, Méthodes et Techniques Optiques pour l’Industrie, Toulouse, France, Novembre 2010
  • "Mesures de perçages imparfaits en industrie", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin, Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie, Mulhouse, France, November 2006

Séminaires invités (1)

  • "Caractérisation et mesure de pointes", Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Yvon Voisin, GDR ISIS - Thème B - Image et Vision, "Mesure industrielle par vision", Paris, France, 2 Février 2011

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